本标准涵盖集成电路的 I-test 和 Vsupply 过压闭锁测试。本标准的目的是建立一种确定 IC 闭锁特性的方法并定义闭锁检测标准。 闩锁特性对于确定产品可靠性和最大限度地减少由于闩锁引起的无故障 (NTF) 和电气过载 (EOS) 故障极为重要。 该测试方法适用于 NMOS、CMOS、双极型以及这些技术的所有变体和组合。
2021-07-13 17:03:25
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ESD protection for USB and Latch-up
2021-06-30 18:04:19
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